MIYGK-J3200高壓開關(guān)特性測(cè)試儀檢定裝置

1、概述：

MIYGK-J3200高壓開關(guān)特性測(cè)試儀檢定裝置采用ARM控制配合CPLD芯片產(chǎn)生高精度、寬范圍的定時(shí)信號(hào)，并能模擬高壓斷路器的動(dòng)作，可用于校驗(yàn)和檢測(cè)高壓斷路器動(dòng)特性測(cè)試儀的時(shí)間基準(zhǔn)，用于校驗(yàn)高壓開關(guān)測(cè)試儀時(shí)間測(cè)量功能。本裝置既可單機(jī)使用，也可以聯(lián)接電腦使用。具體可以參考軟件操作說明。

2、主要技術(shù)指標(biāo)和使用條件：

2.1 本裝置可12路斷口同時(shí)輸出，可同時(shí)模擬12個(gè)高壓斷路器觸頭斷口的合/分閘。

2.2 可同時(shí)模擬高壓斷路器合閘或分閘時(shí)間，可在 0.01－20000.000ms范圍內(nèi)任意設(shè)置，分辨率：1μs，

精度：0.001%讀數(shù)±0.003ms;

2.3 彈跳脈沖個(gè)數(shù)可在0－250 個(gè)范圍內(nèi)任意設(shè)置，彈跳頻率1kHz、2kHz、4kHz、8kHz可選擇。

2.4 支持不同期測(cè)試。

2.5 支持內(nèi)部觸發(fā)、外部觸發(fā)、有源觸發(fā)、無源觸發(fā)。

2.6 環(huán)境溫度：10－30度  環(huán)境濕度：小于85％

3、工作原理簡介：

時(shí)間校準(zhǔn)裝置電路劃分為：觸發(fā)電路、高速可預(yù)置計(jì)數(shù)器電路、高精度晶體振蕩電路、單片機(jī)控制電路、輸出控制電路，如圖（1）所示。

4、儀器面板主要部分圖示說明：              

4.1  12路斷口時(shí)間：

模擬高壓斷路器12路觸頭輸出，前6路A1，B1，C1，A2，B2，C2與其前端黑色接地插孔共地，后6路A3，B3，C3，A4，B4，C4與其前端黑色接地插孔共地，稱之為虛地。如果要同時(shí)測(cè)量12路，則要保證兩個(gè)地相連。

支持每一個(gè)斷口設(shè)置不同的時(shí)間，支持不同期設(shè)置。

4.2有源輸入外觸發(fā)：

由被校驗(yàn)的高壓開關(guān)測(cè)試儀提供觸發(fā)電壓，輸入觸發(fā)電壓的范圍為：DC10－250伏。

4.3有源輸出內(nèi)觸發(fā)：

由本校準(zhǔn)裝置提供觸發(fā)電壓來觸發(fā)被校驗(yàn)的高壓開關(guān)測(cè)試儀，輸出電壓：DC 110V左右。

4.4 無源觸發(fā)端：

   主要用于校準(zhǔn)本裝置。